2年数据证实S-ICD植入有效且并发症发生率低
发布于:2015-04-30 09:01
4月28日,接受早期全皮下心律转复除颤器(S-ICD)植入治疗患者的2年研究数据于Journal of the American College of Cardiology发表。研究显示,该装置消除室性心律失常(VT)或室颤(VF)的成功率非常高。本研究纳入882例患者,是器械临床研究豁免(IDE)研究和欧洲EFFORTLESS上市后的S-ICD注册研究。
研究人员从两项大型前瞻性研究的合并信息中观察到,植入S-ICD一次电击后可消除90.1% 的VT/ VF事件,98%的VT/ VF事件可在最多5次电击后消除。预估不适当电击的3年发生率为13.1%,这一发生率可随术者操作经验的增长而降低。
安全性获肯定
相较于其他前瞻性ICD研究,IDE研究与EFFORTLESS注册研究纳入的患者更多为相较年轻的男性患者,射血分数保留者更多。整体上,70%的患者植入装置的目的为一级预防,13.7%的患者以往曾经静脉植入ICD,其中63%患者因感染需移除装置。
总体上,接受S-ICD植入治疗的患者共有111例VT或VF事件。大多数患者首次电击后症状消除,109例患者电击5次内症状消除。30天内并发症发生率为4.5%,3年Kaplan-Meier评估的1型并发症发生率为5.4%。植入装置安全性得到确定。
尽管S-ICD研究并未强制要求死亡率结果,但研究显示患者2年死亡率为3.2%,或年死亡率1.6%,该结果与近期一些ICD研究,包括MADIT-RIT controlled programming研究结果有可比性。
大多数患者植入装置1年内发生过不适当电击,其1年不正当电击发生率为13.1%。随时间推移,不适当电击发生率随S-ICD检测区域程序改善而降低。感染(无任何菌血症)为植入装置后的最常见并发症,1.7%的患者因此需要取出装置,但该风险或可随术者经验增长而降低。
尽管近14%的患者以往经静脉植入ICD,但无血管内并发症发生。近有0.4%的患者因需要抗心动过速起搏(ATP)或心脏再同步化(CRT)而转为传统ICD治疗。
装置有待进一步精细化
缺少心内膜电极导线的S-ICD装置有其相应的适应证,也就是说其不能提供ATP治疗。因此,VT<170 beats/min的患者未纳入本研究。对这部分患者而言,VT可能在ATP过程中发生潜在的中无痛感停止。此外,S-ICD不适合心动过缓、房室传导阻滞或CRT起搏患者。
译自:http://www.medscape.com/viewarticle/843787
原标题:Two-Year Data Confirm Efficacy, Low Complication Rate With Subcutaneous ICD
翻译:Amy Chi
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